Att testa enheter med Embedded-SIM

Sedan en tid har telekomindustrin tillgång till en ny typ av SIM-kort kallat Embedded SIM eller eSIM. Detta är i princip ett UICC (Universal Integrated Circuit Card) som är fastlött på kretskortet och som inte kan tas bort. Användandet av eSIM har drivits på av två slags applikationer: dels sådana som kräver små dimensioner och […]

Låt inte spoofing äventyra säker positionering

Spoofing innebär att någon avsiktligt lurar ett satellitbaserat navigationssystem, GNSS-system som GPS, att indikera fel position. Maria Simsky, Septentrio, ger här exempel på hur man kan undvika sådana attacker för att få säker positionering.

Snabbaste vägen mot EMC

Det finns många fällor att gå i innan man har kan få sin konstruktion EMC godkänd. I ett seminarium nyligen demonstrerade Rohde & Schwarz lämpliga instrument och metoder för att snabbast komma fram till en EMC-godkänd produkt.

Mät blandarens spurioser på rätt sätt

När man mäter på blandarkretsar är det viktigt att förstå om det är själva blandarkretsen som genererar oönskade signaler, spurioser, eller om mätningen genomförs felaktigt. Weston Sapia, RF-applikationsingenjör vid Analog Devices Inc förklarar här hur mätningarna skall genomföras och vad man skall se upp med.

Mät intermodulationen med brus

För att mäta en mottagares intermodulationsegenskaper används traditionellt två signaler. Erfarenheten visar dock dålig korrelation mellan mätvärden och mottagarens uppförande i verkliga situationer. Den typ av mätning av brus, som på 60-talet infördes för att mäta på bärfrekvenssystem inom telekom, har visat sig vara lösningen på problemet.

Locka med avancerade instrument

Rätt testutrustningen till rimlig kostnad kan hjälpa små och medelstora företag att rekrytera de bästa ingenjörerna.

Låt en IC övervaka energiförbrukningen

Med bara en krets, tillsammans med en liten mikroprocessor, kan man övervaka energiförbrukningen i likströmssystem med upp till 100 V spänning.

Test snart dyrare än produktion

Utvecklingen går mot att testkostnaderna går om produktionskostnaderna för massproducerad hårdvara om man inte ser över sitt testsystem. Det är en av många trender som National Instrument ser. Läs här mer om vad deras årliga ”NI trend watch” tar upp.

Snabbare testsystem med snabbaste processorn

Mätsystem som bygger på PXI har den fördelen att de kan snabbas upp i takt med att nya, snabbare processorer når marknaden. Den här artikeln beskriver världens första PXI-system med en Intel Xeon-processor och PCI Express Gen 3.

Totalgrepp om EMC kräver immunitetsmätningar

Med begreppet EMC följer både vetskap om och tolkning av gällande lagar och direktiv, mätteknik för att verifiera EMC-egenskaper och konstruktionsteknik för att uppfylla kraven. Rohde & Schwarz fångade nyligen in alla delar i välbesökta seminarier i Norden: 100 personer i Stockholm och 50 i Göteborg. Här i reportaget tar vi upp begreppet immunitet (EMS, […]