45 nm flash och logik

Från Samsung kommer en ny 45 nm-process som kombinerar embedded flash och logik. Processen har testats i SmartCard-tillämpningar och visat sig kommersiellt körbar.

– Processen har potential att användas i ett brett fält av säkerhetslösningar och mobila enheter, säger Taehoon Kim, marknadschef för System LSI hos Samsung Electronics. Det gäller till exempel komponenter för SmartCard, NFC, eSE och TPM (Trusted platform module).
Testchipet visar en femtioprocentig minskning av accesstiden och 25 procent lägre energiförbrukning jämfört med komponenter byggda i dagens 80 nm-process.

Comments are closed.