Annons

Mät ström enklare med ny prob

Med den nya strömmätningsknappen i-Prober 520 från TTi kan strömmen mätas direkt på mönsterkortet. Man behöver varken bryta strömkretsen eller sätta in ett mätmotstånd. I stället känner proben av det magnetiska fältet runt en ledare med en patenterad mini-saturerings-magnetometer. Den har utvecklats i av TTI i samarbete med universitetet Cambridge i England och beskrivs här av Holger Opitz (Distrelec Schuricht GmbH).

Det konventionella förfaranden för strömmätning har en avgörande nackdel: För att kunna genomföra mätningen måste mätinstrumentet seriekopplas till strömförande komponenter. Då måste antingen strömkretsen brytas och ett mätmotstånd sättas in, eller en ledare omslutas magnetiskt med en strömmättång. Ledarbanor på kretskort, komponentben eller jordplan gör att dessa mätförfaranden möts av hinder.
Med i-Prober 520 från den brittiska tillverkaren TTi i sitt sortiment kan katalogdistributören Elfa Distrelec leverera en innovativ strömmätningsknapp som löser problemet på ett intelligent sätt. Med ett patenterat förfarande kan mätspetsen direkt och genom enkel applicering mäta strömmarna genom ledarna.

Mätning utan avbrott
I motsats till klassiska mätförfaranden behöver den strömförande ledningen inte brytas.
– Vid felsökning på kretskort eller utveckling av prototyper innebär detta mätförfarande ett avgörande framsteg, betonar Ruud Vertommen, Distrelecs elektronikexpert.
Eftersom ledarna på kretskort i normala fall varken kan brytas eller omslutas magnetiskt, har testingenjörerna hittills varit tvungna att uppskatta strömflödet på basis av mätningar från andra delar i strömkretsen. På grund av den allt större tätheten av moderna kopplingskretskort har avsaknaden av en exakt mätmetod för bestämning av strömflödet allt oftare stött på problem, i synnerhet under design- och utvecklingsfasen av nya kretskort.
– Med den nya strömmätningsknappen från TTi har utvecklingsingenjörerna nu äntligen en tillförlitlig mätmetod till sitt förfogande, säger Vertommen.

Patenterad mätteknik för punktvis mätning

Mätspetsen på i-Prober 520 mäter magnetfältet, som omger varje strömförande ledare, i en mätpunkt. För att få tillförlitliga resultat med denna mätmetod måste sensorn befinna sig på konstant avstånd och mycket nära ledarbanan eftersom magnetfältet som ska mätas minskar med avståndet i kvadrat. I-Prober 520 använder därtill en patenterad mini-saturerings-magnetometer som har utvecklats i samarbete med universitetet Cambridge i England.
Jämfört med konventionella magnetometer ger detta instrument betydligt mindre brus, vanligtvis <6 mA, och har större bandbredd. Den kompakta, helt isolerade mätspetsen lämpar sig för anslutning till alla gängse oscilloskop. För att mäta strömmen i en ledarbana behöver mätspetsen endast sättas på ledaren. Den mäter strömmar med en bandbredd upp till 5 MHz. Mätområdet för fullt utslag sträcker sig från 10 mA till 20 A. Med säkerhetsklassen 300 V Cat II/600 V CAT I motsvarar mätspetsen högsta säkerhetsstandard och lämpar sig för användning med högre spänningar.

Flexibla användningsmöjligheter

Mätning av ledarbanor är dock inte den enda användningsmöjligheten för I-Prober 520. Om man håller mätspetsen mot anslutningstråden, kan strömmen i en komponent mätas. På samma sätt kan också strömmen i enskilda ledare i en flertrådig kabel mätas. Ytterligare ett användningsområde är särskilt intressant för optimering av kretskort. Med mätspetsen kan strömmen i jordplan följas och så till exempel lokaliseras i områden med extra stor strömtäthet eller induktivt inducerade strömmar.
Tack vare sensorns minimala storlek kan I-Prober 520 dessutom användas för exakt mätning av magnetiska fält. Ett magnetsfälts förändringar vid olika punkter kan bestämmas exakt och därmed visa på magnetfältets källa.
Till I-Prober 520 hör utöver styrenheten, kalibratorn och en nätdel också en toroidtransformator som kan sättas på ledaren för att omvandla mätspetsen till en konventionell strömmättång. Därmed kan också klassiska mätningar utföras med högsta noggrannhet.

 

Comments are closed.