Med det nya digitalmönsterinstrumentet PXIe-6570 och mönstergeneratorn NI Digital Pattern Editor gör National Instruments det möjligt att bygga PXI-baserade testsystem för halvledare. Systemen kan användas för allt från RF-kretsar och kretsar för power management till MEMS-kretsar och blandsignalkretsar.

PXIe-6570

Kraven på de senaste halvledarkretsarna är ofta större än vad konventionella testsystem klarar av. Genom att ta halvledarindustrins digitala teststrategi till den öppna PXI-plattformen, som används i halvledartestaren STS (Semiconductor Test System), och förse den med en kraftfull och användarvänlig mönstereditor och debugger kan kunder dra fördel av de senaste PXI-instrumenten för att minska kostnaderna och korta testtiderna för RF- och analogtunga halvledarkretsar.
– Det PXI-baserade mönsterinstrumentet är ett viktigt tillskott till STS, eftersom det ger utvecklare alla de digitala funktioner som de bara förväntar sig att hitta i avancerade testplattformar för digitala kretsar, säger Ron Wolfe, ansvarig för NI:s halvledartestare. Med den här funktionen i PXI i en produktionsmiljö kan de klara kostnadsnivån och testkraven från de senaste kretsarna samtidigt som tekniken går att skala till andra produkter i sortimentet.
NI PXIe-6570 digitalmönsterinstrument har de prestanda som krävs för de halvledarkretsar som normalt används i trådlös kommunikation och till IoT-produkter till en rimlig kostnad per anslutning. Instrumentet kan exekvera mönster med 100 miljoner vektorer per sekund med en oberoende källa, och sampla parametriska funktioner för data och spänning/ström med maximalt 256 synkroniserade digitala ingångar per subsystem. Användarna kan dra fördel av öppenheten i PXI och STS för att nyttja exakt så många enheter de behöver för en viss krets eller visst system som ska testas.
Den nya mjukvarueditorn för digitala testsignaler har redigeringsmiljöer för anslutningarna hos testobjektet liksom specifikationer och mönster för att snabbare få fram tester. Det finns integrerade verktyg för att enkelt kunna testa på olika geografiska platser och med andra instrument när det är dags att dra igång produktionen plus att det finns verktyg som shmoo-plottar och en interaktiv karta över anslutningarna för att effektivare kunna avlusa och optimera testerna.
Att använda samma PXI-hårdvara och mjukvarorna TestStand, LabVIEW och Digital Pattern Editor i både utvecklingen och i produktionen minskar arbetet med att hålla data korrelerade vilket i sin tur kortar tiden till färdig produkt. Det kompakta formatet i PXI-hårdvaran, som kan användas fristående eller i ett STS-system, spar golvyta i fabriken och går att köra från ett vanligt vägguttag på en labbänk.
–PXI har visat sig vara en sällsynt kombination av hård- och mjukvara som framgångsrikt kan användas i både produktionen och utvecklingslabbet, fortsätter Wolfe. NI:s digitalmönsterinstrument och digitalmönstereditorn är viktiga innovationer som hjälper halvledartillverkarna och testhusen att sänka kostnaden för test och samtidigt förbättra utvecklingen av testprogram.
Halvledarföretag använder NI:s plattformar och ekosystem för att bygga smartare testsystem. Förutom den färdigkonfigurerade STS-serien, vektorsignaltransceivern med 1 GHz bandbredd, en Source Measure Unit med en känslighet på fA och halvledarmodulen i TestStand kan dessa system dra nytta av de mer än 600 PXI-produkterna som spänner från DC till millimetervågor. De kan flytta data snabbt via en buss baserad på PCI Express Gen 3 med en synkronisering under en nanosekund plus integrerad timing och triggning. Användare kan dra nytta av produktiviteten i utvecklingsmiljöerna LabVIEW och TestStand tillsammans med ett aktivt ekosystem med partners, tredjeparts-IP och applikationsingenjörer för att sänka testkostnaden, korta utvecklingstiden och framtidssäkra testarna för kraven från nya avancerade RF- och blandsignalkretsar.

Filed under: Utländsk Teknik