Annons

GaN allt tillförlitligare visar rapport

MACOM bevisar i en rapport hur mycket tillförlitligare deras komponenter i galliumnitrid (GaN) på kiselsubstrat (Si) har blivit sedan deras första generation introducerades 2006. Dagens generation GaN har till och med visat sig vara tillförlitligare än tionde generationens LDMOS, något som har stor betydelse då de används i mobilsystemens basstationer.