Den 26 oktober 2010 arrangeras av Stockholmsmässan och Branschorganisationen Svensk Elektronik en konferens med namnet Tillförlitlighet 2010.

Alla de 300 kretskort som producerades live på elektronikmässan S.E.E. 2010 under april i år håller nu på att optiskt avsynas enligt IPC-A-610 Klass 2 av IPC CIT (Certified IPC Trainer) på Triab AB i Vällingby. Därefter kommer ett urval att röntgas och genomgå en AST-test på SAAB i Järfälla.
Resultaten av alla testerna kommer att redovisas på konferensen ”Tillförlitlighet 2010” som arrangeras av Stockholmsmässan och Svensk Elektronik och den 26 oktober 2010.
Jämfört med tidigare års tillförlitlighetskonferenser är det helt spårbara kretskortsunderlaget helt unikt, dels genom att antalet kretskort är så stort samt att parametrarna är begränsade, vilket möjliggör mer statistiskt säkra resultat.
För alla som är verksamma inom konstruktions- och produktionskedjan för framtagande av elektronikhårdvara är denna konferens ett måste (!) om ni är intresserade av att få den senaste informationen inom kvalitets och tillförlitlighetsområdet för blyfria processer.
Experter som Lars-Gunnar Klang, LGKC och Göran Wetter från Swerea kommer att berätta om hur olika lodpastor uppträder vid olika former av applicering. Dessa omsmälts antingen i en normal varmluftsugn utan kvävgas eller i en kondensationsmaskin, i en helt syrefri miljö. En del av dagen kommer att ägnas åt hur komponenter som QFN och stora BGA- samt PP-kapslar (Package On Package) mår efter att ha blivit lödda.
Det kommer säkert att väckas en hel del tankeställare bland Er som kommer till ”Tillförlitlighet 2010”, för det preliminära resultatet visar klart att omställningen från en mer eller mindre bekymmersfri blyad tillverkning till en blyfri inte är helt lätt. Detta trots att leverantörer utmålar en positiv bild, bara ”rätt” val av maskiner och material köps in.
Lars Wallin
Projektledare för Tillförlitlighet 2010

Filed under: SvenskTeknik