NI lanserar nytt test- och mätsystem

National Instruments (NI) lanserar nu ett test och mätsystem (Embedded Contoller NI PXIe-8880) baserad på Intels åttakärniga Intel Xeon och NI PXIe-1085. Enligt NI är det här industrins första test- och mätinstrument som använder bakplan enligt PXI Express Gen 3.

Kombinationen av den åttakärniga serverprocessorn Intel Xeon E5-2618L v3 och en systembandbredd på upp till 24 GB/s ger hög prestanda för beräkningsintensiva och parallella applikation så som test av trådlösa system, halvledarkomponenter och prototyputveckling av 5G.

Enligt Ni erbjuder NI:s PXIe-8880 upp till dubbelt så hög prestanda och bandbredd i test- och mätapplikationer, jämfört med företagets äldre system. NI:s nya instrument kan förses med upp till 24 GB DDR4 samt 24 kanaler med PCI Express Gen 3 bakplan. Det nya chassit har plats för 18 kortplatser med åtta kanaler per kort, en sammanlagd systembandbredd på 24 GB/s. PXIe-8880 och instrumentet körs på Windows 7 64-bit eller LabVIEW RTOS.

– Under de senaste två årtiondena har vi sett en gradvis övergång från traditionella instrument till förmån för PXI-plattformen när det gäller automatiserad test säger Jessy Cavazos, som är branschansvarig för mätteknik och instrumentering på Frost & Sullivan. Den nya kontrollern med en Intel Xeonprocessor gör att vi räknar med att PXI kommer att bli allt vanligare även i de mest krävande tillämpningarna.

Comments are closed.